[发明专利]一种平面近场数据的采样方法、设备及介质在审
| 申请号: | 202310671216.X | 申请日: | 2023-06-08 |
| 公开(公告)号: | CN116400143A | 公开(公告)日: | 2023-07-07 |
| 发明(设计)人: | 王汝征;王涛;朱剑平 | 申请(专利权)人: | 北京中科睿信科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10;G01R29/08;G06F17/11;G06F17/14 |
| 代理公司: | 北京君慧知识产权代理事务所(普通合伙) 11716 | 代理人: | 王彬 |
| 地址: | 100080 北京市海淀区亮甲店130号21号楼*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 本申请公开了一种平面近场数据的采样方法、设备及介质,涉及数据采集技术领域,方法包括:确定天线对应的旋转轨迹,并确定采样探头对应的圆弧轨迹;根据旋转轨迹和圆弧轨迹确定采样坐标,根据采样坐标确定数据采样点;通过采样探头根据数据采样点对天线进行数据采样。本申请使用待测天线圆周运动,采样探头围绕一点做圆弧运动,圆弧一端是待测天线的圆心,实现双向采样。同时为了满足采样点符合矩阵点分布,通过采样点拉格朗日平面插值的方法得到实际需要满足矩形分布的近远场变换采样点,即在不失测试精度基础上提高测试效率,同时采样设备成本大大降低。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 平面 近场 数据 采样 方法 设备 介质 | ||
【主权项】:
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