[发明专利]一种平面近场数据的采样方法、设备及介质

权利要求书

1.一种平面近场数据的采样方法，其特征在于，应用在一种平面近场数据的采样系统中，所述系统包括天线和采样探头；所述方法包括：

确定所述天线对应的旋转轨迹，并确定所述采样探头对应的圆弧轨迹；

根据所述旋转轨迹和所述圆弧轨迹确定采样坐标，根据所述采样坐标确定数据采样点；

通过采样探头根据所述数据采样点对天线进行数据采样。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述天线对应的旋转轨迹，具体包括：

确定预先设置在所述天线的第一圆心，并确定所述天线的旋转间隔；

根据所述第一圆心和所述旋转间隔确定所述天线对应的旋转运动；

确定所述旋转运动对应的旋转轨迹。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述采样探头对应的圆弧轨迹，具体包括：

确定预先设置在所述采样探头的第二圆心，并根据所述旋转轨迹确定所述第二圆心的跟随轨迹；

确定预先设置的采样数量，根据所述跟随轨迹和所述采样数量确定所述采样探头的圆弧运动；

确定所述圆弧运动对应的圆弧轨迹。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述旋转轨迹和所述圆弧轨迹确定采样坐标，具体包括：

确定所述旋转轨迹和所述圆弧轨迹的交叉点，根据所述交叉点确定所述采样坐标。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

确定所述旋转间隔的度数，并根据所述旋转间隔的度数确定所述天线的旋转次数；

确定所述天线的单次旋转时间，并根据所述单次旋转时间和所述旋转次数确定所述天线的旋转时间。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

确定所述采样探头的单次采样时间和采样数量，并根据所述旋转次数、所述单次采样时间和所述采样数量确定所述采样探头的采样时间。

7.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，确定预先设置的采样数量，具体包括：

确定所述天线的旋转次数，根据所述旋转次数确定所述采样探头的旋转采样数量；

确定所述旋转运动的中心点，并根据所述旋转采样数量和所述中心点确定所述采样数量。

8.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述跟随轨迹和所述采样数量确定所述采样探头的圆弧运动，具体包括：

根据所述采样探头的杆臂，并根据所述杆臂确定所述采样探头的运动半径，以根据所述运动半径确定所述圆弧运动。

9.一种平面近场数据的采样设备，其特征在于，应用在一种平面近场数据的采样系统中，所述系统包括天线和采样探头；所述设备包括：

至少一个处理器；以及，

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述一种平面近场数据的采样设备能够执行：

确定所述天线对应的旋转轨迹，并确定所述采样探头对应的圆弧轨迹；

根据所述旋转轨迹和所述圆弧轨迹确定采样坐标，根据所述采样坐标确定数据采样点；

通过采样探头根据所述数据采样点对天线进行数据采样。

10.一种非易失性计算机存储介质，存储有计算机可执行指令，其特征在于，应用在一种平面近场数据的采样系统中，所述系统包括天线和采样探头；所述计算机可执行指令设置为：

确定所述天线对应的旋转轨迹，并确定所述采样探头对应的圆弧轨迹；

根据所述旋转轨迹和所述圆弧轨迹确定采样坐标，根据所述采样坐标确定数据采样点；

通过采样探头根据所述数据采样点对天线进行数据采样。