[发明专利]一种芯粒工作状态监测方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202310660157.6 | 申请日： | 2023-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN116400201B | 公开（公告）日： | 2023-08-11 |
| 发明（设计）人： | 王嘉诚;张少仲;张栩 | 申请（专利权）人： | 中诚华隆计算机技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06N3/045;G06N3/0442;G06N3/0464;G06F30/27 |
| 代理公司： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人： | 张莉瑜 |
| 地址： | 100012 北京市朝*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯粒监测技术领域，特别涉及一种芯粒工作状态监测方法、装置、电子设备及存储介质，其中方法包括：获取各芯粒待检测时刻的各项工作参数检测值及一段连续历史时刻的工作参数，并进行标准化处理；截取待检测时刻前最新一段历史时刻的工作参数，输入训练好的CNN‑LSTM预测模型，获得待检测时刻对应的工作参数预测值；基于一段连续历史时刻的工作参数，确定各项工作参数待检测时刻的参照值；基于各芯粒待检测时刻的各项工作参数检测值、预测值及参照值，判定各芯粒工作状态是否出现异常，是则报警，否则继续检测。本发明能够监测各个芯粒的工作状态，以及时发现异常征兆。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 工作 状态 监测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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