[发明专利]基于双系数及双序列的电离层扰动探测方法、装置及介质

摘要

本发明属于扰动探测技术领域，具体公开了一种基于双系数及双序列的电离层扰动探测方法、装置及介质。其中方法包括构建背景场，所述背景场与待测轨道相似；根据待测轨道与背景场的差值对电离层扰动进行提取。本发明利用太阳同步轨道固定，且经过同一地点当地时保持基本稳定的特点，可以使历史数据更多的参与电离层扰动探测，从而排除一些会经常性出现在探测地点的电离层异常，使探测结果更加精确。