[发明专利]一种通过移相控制的芯片初始化数据测试方法有效
| 申请号： | 202310610839.6 | 申请日： | 2023-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN116338439B | 公开（公告）日： | 2023-08-04 |
| 发明（设计）人： | 刘雪颖;张小龙;章圣长;赵云;余正东 | 申请（专利权）人： | 成都瑞迪威科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 | 代理人： | 程余 |
| 地址： | 610000 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种通过移相控制的芯片初始化数据测试方法，属于测试技术领域。包括：通过仿真软件得到若干组移相控制数据；将若干组移相控制数据以遍历方式写入芯片寄存器，每写入一组，对芯片测试一次，保存每组移相控制数据的s2p测试数据；读取所有s2p测试数据，根据增益和角度画出极坐标圆图，找到极坐标圆图的最大内切圆；在内切圆上的数据中，从0°开始以5.625°步进取与64态角度差值最小的64个数据作为控制芯片的64态对应码值，写入芯片寄存器，输出控制芯片的最佳初始化数据。本方法既避免了测试无用范围，又使得测试范围相对比较大，得到的初始化数据更可靠，极大地提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通过 控制 芯片 初始化 数据 测试 方法 | ||
【主权项】：
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