[发明专利]一种集成电路ATE设备校准方法在审
| 申请号： | 202310598102.7 | 申请日： | 2023-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN116643226A | 公开（公告）日： | 2023-08-25 |
| 发明（设计）人： | 马美铭;丁鹏飞;钱威成;王闯 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人： | 杨强 |
| 地址： | 214000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种集成电路ATE设备校准方法，属于集成电路测试设备领域。先对校准球进行选取并进行校准球程序的生成；再使用校准球程序验证ATE设备稳定性。本发明在校准球程序生成的基础上进一步提出ATE设备校准，将校准球的使用与测试设备、测试品种、测试人员、测试数据结合起来，全面准确快速判断测试设备的稳定性和测试结果的准确性。在集成电路人工小批量测试和大批量自动化机械手测试中，本方法通过制作测试校准球，并利用校准球来进行ATE设备的校准，是对ATE设备稳定性分析的一个重要方法，可以更加全面准确快速的解决集成电路ATE设备稳定性判定的问题，避免由于ATE设备系统异常造成的生产质量问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 ate 设备 校准 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第五十八研究所，未经中国电子科技集团公司第五十八研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202310598102.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
