[发明专利]一种面板检测方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310569282.6 | 申请日： | 2023-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN116735598A | 公开（公告）日： | 2023-09-12 |
| 发明（设计）人： | 黄文奇;周志刚;符俊杰;刘志勇 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 张英 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种面板检测方法，该方法包括：依据当前测试的配置信息和测试需求，从模型库中调用目标分类模型，将配置信息与分类模型组成测试信息；依据测试信息，对待测显示面板进行缺陷检测分类，获得待测显示面板的缺陷信息。本发明还公开了一种面板检测装置、相应的设备及存储介质。本发明依据测试需求选择缺陷的检测分类模型，可以有效提高缺陷检测的精确度和灵活性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面板 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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