[发明专利]一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310538881.1 | 申请日： | 2023-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN116302769A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 王思明;王孜;周浩 | 申请（专利权）人： | 上海孤波科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/263;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 刘凤 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易实验区碧波*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质，通过获取待测芯片对应的测试需求，以及所述测试需求对应的硬件仪器；针对每种所述硬件仪器，确定该硬件仪器在所述测试需求中对应的测试动作；访问预设的驱动代码数据库，调取所述测试动作对应的驱动代码，并将所述驱动代码封装为测试工程文件；运行所述测试工程文件，接收所述硬件仪器按照所述测试动作采集到的测试数据，并将所述测试数据返回至用户。可以减少人力成本，提升芯片测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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