[发明专利]探针卡测温系统及测温方法有效

专利信息
申请号: 202310538366.3 申请日: 2023-05-15
公开(公告)号: CN116295933B 公开(公告)日: 2023-08-08
发明(设计)人: 邹斌 申请(专利权)人: 上海泽丰半导体科技有限公司
主分类号: G01K13/00 分类号: G01K13/00;G01K1/20
代理公司: 北京清大紫荆知识产权代理有限公司 11718 代理人: 郑纯;黎飞鸿
地址: 201306 上海市浦东新区中国(上海)自由*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请提供一种探针卡测温系统及测温方法,其中探针卡测温系统中测温线、第一连接器和温度传感器均预设于探针卡内部,第二连接器位于探针卡外部,其中探针卡内部的晶圆侧结构件和探针接口板设置测温通孔,测温线设置于探针接口板的上表面;测温线的测温端穿过通孔后到达探针基板上的待测温点连接;测温线的信号端与第一连接器连接,其中第一连接器设置于测试机侧结构件中的非探测区域;温度传感器与第一连接器连接,用于获取补偿温度,温度传感器设置于测试机侧结构件中的非探测区域;第一连接器与第二连接器可拆卸分开设置。不仅易于测温线的走线及布置,还增大测试点位置的选取范围,避免了由于测温线走线杂乱造成的剐蹭损伤等。
搜索关键词: 探针 测温 系统 方法
【主权项】:
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