[发明专利]一种测试缺陷的获取方法、装置、设备及可读存储介质在审
申请号: | 202310491804.5 | 申请日: | 2023-05-04 |
公开(公告)号: | CN116521552A | 公开(公告)日: | 2023-08-01 |
发明(设计)人: | 张洪恩 | 申请(专利权)人: | 上海微盟企业发展有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 崔清杨 |
地址: | 200441 上海市宝山*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本申请公开了一种测试缺陷的获取方法、装置、设备及可读存储介质,应用于软件测试领域,包括:获取待测试系统,并在待测试系统中添加录制脚本;利用录制脚本得到缺陷测试过程的录制数据;将录制数据发送到协作平台。本申请为软件系统注入录制脚本,通过录制脚本将测试过程中的缺陷进行录制,并反馈给开发人员,提高了开发人员与测试人员的沟通效率,便于测试人员填写缺陷描述,并且处理人查看缺陷描述时,就可以通过录制回放页面,查看缺陷,便于准确分析缺陷产生原因。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 缺陷 获取 方法 装置 设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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