[发明专利]一种激光器芯片老化测试装置在审
| 申请号： | 202310471380.6 | 申请日： | 2023-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN116540071A | 公开（公告）日： | 2023-08-04 |
| 发明（设计）人： | 马超;唐朋;黄秋元;周鹏 | 申请（专利权）人： | 武汉普赛斯电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区佛祖岭街道*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种激光器芯片老化测试装置，涉及芯片可靠性测试技术领域，其包括测试本体、温控热沉板、测试夹具、电加热片、风冷组件及散热组件。本发明通过设置上述结构，能够调节散热效率，对于不同种类的芯片，能够辅助加热或散热，能够适应不同功率芯片的老化，且适应性较强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光器 芯片 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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