[发明专利]一种SRAM模型提取方法在审
申请号: | 202310463682.9 | 申请日: | 2023-04-26 |
公开(公告)号: | CN116484622A | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | 傅飞;余裕宁;朱能勇 | 申请(专利权)人: | 上海华大九天信息科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20 |
代理公司: | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人: | 王金双 |
地址: | 201306 上海市浦东新区中国(上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种SRAM模型提取方法,包括以下步骤:在不同量测温度下,基于SRAM单元的单管量测数据,分别提取单管模型;基于所述单管模型,进行SRAM单元性能仿真,分别将读电流、静态噪声容限、写噪声容限、静态漏电流和SRAM单元特性测试数据对比;若读电流的误差不满足预设条件,则调整下拉晶体管、传输晶体管开态电流;若静态噪声容限的误差或写噪声容限的误差不满足预设条件,则调整上拉晶体管阈值电压;若静态漏电流的误差不满足预设条件,则调整下拉晶体管、传输晶体管、上拉晶体管关态电流;直到所述读电流、所述静态噪声容限、所述写噪声容限、以及所述静态漏电流都满足预设条件,完成SRAM模型提取。本发明的方法能够快速完成SRAM单元性能优化,提高SRAM建模效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 sram 模型 提取 方法 | ||
【主权项】:
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