[发明专利]一种基于二分法的芯片测试档位确定系统和方法在审
| 申请号： | 202310452661.7 | 申请日： | 2023-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN116500419A | 公开（公告）日： | 2023-07-28 |
| 发明（设计）人： | 李腾 | 申请（专利权）人： | 普冉半导体（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 童素珠 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区中国（上海）自*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于二分法的芯片测试档位确定系统和方法，其中系统包括：数据获取模块，用于使用测试机获取多个测试芯片的档位数据与对应的电流数据；数据排序模块，用于将所述档位数据按照电流数据的大小排序；二分法查找模块，用于将所述档位数据规整至同一数组中；将数组中的数据通过二分法进行查找，直至找到所述多个测试芯片的最佳电流档位。通过本发明，针对非线性序列的芯片测试档位及电流数据，重新排序使所述电流数据其变成单调递增或递减的序列，再使用二分法进行档位数据查找，快速找到最佳的测试档位，进而减少测试时间，缩减产品测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 二分法 芯片 测试 档位 确定 系统 方法 | ||
【主权项】：
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