[发明专利]一种平面结构的空间姿态检测方法、装置、设备及介质在审

专利信息
申请号: 202310452283.2 申请日: 2023-04-24
公开(公告)号: CN116753899A 公开(公告)日: 2023-09-15
发明(设计)人: 蒋宇晨;王佳玮;徐弢;黄海;秦韵 申请(专利权)人: 上海西派埃自动化仪表工程有限责任公司
主分类号: G01C1/00 分类号: G01C1/00;G01B11/00;G01B17/00;G01B21/00
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 秦晓雪
地址: 201612 上海市松*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种平面结构的空间姿态检测方法、装置、电子设备及存储介质。该方法由空间姿态检测设备执行,所述空间姿态检测设备包括测量器件;所述测量器件用于采集测量数据;该方法包括:通过测量器件获取三个测距单元的距离数据;根据三个测距单元的距离数据以及每两个测距单元的测量轴线之间的预置夹角,确定待测平面结构的法向量;根据待测平面结构的法向量以及预先确定的参考平面的法向量,确定待测平面结构的空间姿态检测结果。本技术方案解决了现有空间姿态检测方式成本高、测量复杂等问题,可以在实现空间姿态简便测量的同时,降低检测成本,提高平面结构空间姿态检测的准确性。
搜索关键词: 一种 平面 结构 空间 姿态 检测 方法 装置 设备 介质
【主权项】:
暂无信息
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