[发明专利]料件缺陷显示方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310451236.6 | 申请日： | 2023-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN116297526A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 何星海;赵明 | 申请（专利权）人： | 英业达（重庆）有限公司;江苏特创科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/88 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 李行 |
| 地址： | 401331 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本申请提供一种料件缺陷显示方法、装置、电子设备及存储介质，涉及图像显示技术领域，该方法通过获取待测料件的检测图像，再确定包括多个检测单元格的检测网格，并确定检测图像中各检测单元格内的缺陷，之后将存在缺陷的检测单元格确定为目标检测单元格，并根据各检测单元格与显示面板上各显示单元之间的一一对应关系，在各显示单元中确定目标检测单元格对应的目标显示单元，最后将目标显示单元进行高亮显示。可以使操作人员较为便捷地确定料件上存在缺陷的位置，进而进行复查，提高了缺陷显示方法的实用性。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 显示 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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