[发明专利]测试装置在审

专利信息
申请号: 202310450816.3 申请日: 2019-09-25
公开(公告)号: CN116380458A 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 松本繁;宫下博至;田代和义;村内一宏;三浦博之;米川朗弘;篠原佳寿 申请(专利权)人: 国际计测器株式会社
主分类号: G01M13/025 分类号: G01M13/025;G01M17/007
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳;梁霄颖
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的一个方面提供一种测试装置,其包括:输入侧驱动部,其能够对作为被测试体的操纵装置的转向轴进行旋转驱动;和控制部,其控制所述输入侧驱动部,按照规定的测试波形对所述转向轴进行旋转驱动,所述控制部构成为,当所述转向轴的角度位置到达作为该转向轴的可动范围的末端的触端位置时,能够执行使该转向轴的旋转方向立刻反转的反转控制,所述反转控制包括跳跃处理,其在所述转向轴的角度位置到达所述触端位置时,跳到预计成为与此时刻相同程度的转矩的下一个控制点。
搜索关键词: 测试 装置
【主权项】:
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