[发明专利]一种粒子辐照CIS后饱和暗信号的测试方法及测试系统在审
| 申请号： | 202310446677.7 | 申请日： | 2023-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN116471400A | 公开（公告）日： | 2023-07-21 |
| 发明（设计）人： | 王祖军;聂栩;黄港;赖善坤;薛院院;何宝平;马武英;盛江坤;缑石龙;姚志斌 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究所 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王少文 |
| 地址： | 710024 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种辐射效应测试方法及测试系统，具体涉及一种粒子辐照CIS后饱和暗信号的测试方法及测试系统，解决现有的大部分测试方法及测试系统均采用离线测量，无法反映真实运行状态下的待测CMOS图像传感器的饱和暗信号的技术问题。该粒子辐照CIS后饱和暗信号的测试系统，包括辐射源、控制器、处理器、支架、依次设置于支架上的辐照板、CMOS图像传感器插座；辐照板与CMOS图像传感器插座电连接；CMOS图像传感器插座用于安装待测CMOS图像传感器；待测CMOS图像传感器位于辐射源的出射光路上；辐照板与控制器、处理器依次电连接；辐射源用于诱发待测CMOS图像传感器产生辐照损伤效应，导致待测CMOS图像传感器暗信号发生变化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 粒子 辐照 cis 饱和 信号 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西北核技术研究所，未经西北核技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202310446677.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种资源分配方法、设备及介质
- 下一篇：一种日志处理方法和应用服务器
