[发明专利]低压配网日理论线损概率分析方法、装置、电子设备及介质在审
申请号: | 202310441653.2 | 申请日: | 2023-04-23 |
公开(公告)号: | CN116599035A | 公开(公告)日: | 2023-08-15 |
发明(设计)人: | 侯兴哲;程瑛颖;陈文礼;苏宇;陈飞宇;吴至友;黄浩川;康煜;徐鸿宇;肖冀;王思韡;邹波;万树伟;谢广成;谭懿玲;何珉;要文波;吴华;何艺铭 | 申请(专利权)人: | 国网重庆市电力公司营销服务中心;重庆师范大学;国家电网有限公司 |
主分类号: | H02J3/00 | 分类号: | H02J3/00;G06F30/18;G06F30/20;H02J3/06;H02J3/38;G06F111/08;G06F113/04 |
代理公司: | 重庆缙云专利代理事务所(特殊普通合伙) 50237 | 代理人: | 左倩 |
地址: | 401121 重庆*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 低压配网日理论线损概率分析方法、装置、电子设备及介质,方法包括以下步骤:基于智能电表的量测数据建立随机变量的概率分布模型;基于随机变量的概率分布模型,通过抽样方法生成具有空间相关性的随机样本;基于随机样本和结构参数,进行低压配网潮流计算;采用模拟法计算多次低压配网潮流结果,分析日理论线损率的概率分布。装置包括:概率建模单元、随机样本抽样单元、潮流计算单元、线损概率分析单元。本发明提出低压配网日理论线损概率分析方法,基于历史数据建立负荷功率、配变低压侧电压和分布式电源出力各断面的概率分布模型,并采用基于模拟法计算日线损率的概率分布。 | ||
搜索关键词: | 低压 配网日 理论 概率 分析 方法 装置 电子设备 介质 | ||
【主权项】:
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