[发明专利]一种红外遥控接收芯片的Multi-Site CP测试系统在审

专利信息
申请号: 202310417755.0 申请日: 2023-04-19
公开(公告)号: CN116338435A 公开(公告)日: 2023-06-27
发明(设计)人: 冉启海;吴德钦;王明江 申请(专利权)人: 深圳市宇思半导体有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G08C23/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明一种红外遥控接收芯片的Multi‑Site CP测试系统,包括集成电路测试机、探针卡、微信号处理电路和信号衰减电路,所述集成电路自动测试机分别连接探针卡、微信号处理电路和信号衰减电路。本发明的集成电路自动测试机的测试通道连接红外遥控接收芯片的输入引脚并向红外遥控接收芯片的输入引脚输出载波频率的方波信号,相对于现有技术,抗干扰性和Site与Site间的一致性更好,既保证了芯片的品质,还降低了测试成本。另外,将毫伏级弱载波频率的方波信号经过信号衰减电路输入到红外遥控接收芯片,红外遥控接收芯片的测试引脚输出交流信号通过微信号处理电路连接集成电路自动测试机,将对红外遥控接收芯片输出的弱交流信号转变为直流信号测试,对集成电路自动测试机的硬件资源要求降低,有更多的集成电路自动测试机选择,并能满足更多的Site测试,所需测试时间更短,测试效率更高,从而测试成本更低。
搜索关键词: 一种 红外 遥控 接收 芯片 multi site cp 测试 系统
【主权项】:
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