[发明专利]功能测试方法、设备及存储介质在审
申请号: | 202310383927.7 | 申请日: | 2023-04-11 |
公开(公告)号: | CN116431424A | 公开(公告)日: | 2023-07-14 |
发明(设计)人: | 李青 | 申请(专利权)人: | 无锡闻讯电子有限公司 |
主分类号: | G06F11/267 | 分类号: | G06F11/267;G06F11/22 |
代理公司: | 广州德科知识产权代理有限公司 44381 | 代理人: | 郭俊霞;万振雄 |
地址: | 214028 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种功能测试方法、设备及存储介质,其中,上述功能测试方法中,通过获得包括功能测试标识的拨号指令,进而根据功能测试标识生成与功能测试标识对应的功能测试指令,从而根据功能测试指令执行至少一个待测试功能对应的测试流程。相比于现有技术,本申请以包括功能测试标识的拨号指令为功能触发条件,一次性触发至少一个待测试功能的测试流程,提升了功能验证效率,提高了设备生产效率。 | ||
搜索关键词: | 功能 测试 方法 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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