[发明专利]一种平面近场法天线测量中的扫描探头修正方法在审
| 申请号： | 202310383818.5 | 申请日： | 2023-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN116559745A | 公开（公告）日： | 2023-08-08 |
| 发明（设计）人： | 沈伦玉;周祚;赵虔;邓乐武;杜微;魏平;李华军;吴杰 | 申请（专利权）人： | 成都飞机工业（集团）有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R29/10 |
| 代理公司： | 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 | 代理人： | 程余 |
| 地址： | 610092 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种平面近场法天线测量中的扫描探头修正方法，属于天线测量技术领域，包括以下步骤：步骤一、在待测天线的辐射近场区，进行平面近场扫描测量，得到一个平面上的待测天线近场幅度和相位数据；步骤二、将天线近场数据变换到天线远场；步骤三：测量扫描探头的增益和方向图；步骤四：将扫描探头的增益和方向图从共同结果中去除，得到待测天线的增益和远场方向图。本发明通过实测数据进行探头影响去嵌入，从共同结果中将探头影响去除，可以大幅度降低探头影响，有效修正增益和方向图测量结果；解决了探头影响的实际评估分析，对于提升平面近场法天线测量准确度具有至关重要的意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 平面 近场 天线 测量 中的 扫描 探头 修正 方法 | ||
【主权项】：
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