[发明专利]一种计算煤样微晶结构参数的方法

摘要

本发明涉及一种计算煤样微晶结构参数的方法，包括以下步骤：(1)取待测煤样采用XRD进行测试，获取其XRD图谱；(2)结合所测得的XRD图谱获得待测煤样的X射线的波长λ、γ带峰位对应的衍射角θγ、002峰峰位对应的衍射角θ002、微晶形状因子K1、002带的半峰宽值β002、100带的半峰宽值β100、100峰峰位对应的衍射角θ100、002带的面积A002和γ带的面积Aγ，然后计算待测煤样的微晶结构参数。与现有技术相比，本发明通过将煤及其热解产物的XRD谱图上会出现与石墨结构相对应的特征衍射峰，经过分峰拟合后将数据带入公式计算，可以得到微晶的结构参数。