[发明专利]一种射频芯片三温手动测试系统在审
| 申请号： | 202310306610.3 | 申请日： | 2023-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN116183979A | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | 王国华;李泽林 | 申请（专利权）人： | 成都华轺科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市华腾知识产权代理有限公司 44370 | 代理人： | 彭年才 |
| 地址： | 610213 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种射频芯片三温手动测试系统，包括测试组件，所述测试组件包括夹具密封板、芯片治具、夹具密封罩、连接板、支撑架、排气口、两个导轨、进气口、滑动座、升降气缸、推动气缸、射频输出及控制接口和底座；两个所述导轨对称固定连接于所述底座的上表面。本发明通过推动气缸推动滑动座，可以将射频芯片放置于芯片治具内，通过升降气缸带动夹具密封罩向下移动，即可将射频芯片密封至夹具密封罩内，通过夹具密封罩隔绝外部的空气，可以解决低温测试时射频芯片结霜的问题，而且节约了测试时间，提高了测试效率，避免的人员在高低温和严重噪音的环境工作，同时操作简单，降低人员劳动强度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 芯片 手动 测试 系统 | ||
【主权项】：
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