[发明专利]低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统在审
| 申请号： | 202310304525.3 | 申请日： | 2023-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN116298544A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 刘拓;张英南;孔德旺;吴洋;安兆彬;刘紫薇;姜涌泉 | 申请（专利权）人： | 北京环境特性研究所 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R29/10;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人： | 周娇娇 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统。方法包括：利用第一信号源产生第一频率和第一功率的第一信号，该功率不小于低噪声放大器的饱和输入功率；利用第二信号源产生第二频率和第二功率的第二信号，该功率小于低噪声放大器的饱和输入功率，第二频率和第一频率不相等；利用测试接收机测量第二信号的功率，接收机的接收频率等于第二频率；利用脉冲发生器产生第一脉冲和第二脉冲；根据接收机接收到的功率与预设功率的差值，调整第二脉冲的脉冲参数，直至测试接收机接收到的功率与预设功率相等；基于第二脉冲的最终脉冲参数和第一脉冲的脉冲参数，确定低噪声放大器的饱和恢复时间。该方法能够准确测量低噪声放大器的饱和恢复时间。 | ||
| 搜索关键词： | 低噪声放大器 饱和 恢复时间 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
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