[发明专利]低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统

说明书

本发明涉及一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统。方法包括：利用第一信号源产生第一频率和第一功率的第一信号，该功率不小于低噪声放大器的饱和输入功率；利用第二信号源产生第二频率和第二功率的第二信号，该功率小于低噪声放大器的饱和输入功率，第二频率和第一频率不相等；利用测试接收机测量第二信号的功率，接收机的接收频率等于第二频率；利用脉冲发生器产生第一脉冲和第二脉冲；根据接收机接收到的功率与预设功率的差值，调整第二脉冲的脉冲参数，直至测试接收机接收到的功率与预设功率相等；基于第二脉冲的最终脉冲参数和第一脉冲的脉冲参数，确定低噪声放大器的饱和恢复时间。该方法能够准确测量低噪声放大器的饱和恢复时间。

技术领域

本发明涉及电磁特性测试技术领域，尤其涉及一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统。

背景技术

目前，目标电磁特性测试通常在紧缩场微波暗室内进行，在微波暗室内，收发天线的安装位置通常是固定的。在测试时，发射天线向被测目标发射测试信号，被测目标接收到测试信号后将其反射至接收天线。此外，为保证系统有较大的动态，发射链路往往具备大功率的功放，接收链路一般具备低噪声放大器。理想情况下，接收天线仅接收被测目标的回波信号，该回波信号为小功率信号，该小功率信号可以使低噪声放大器工作在线性区，从而将回波信号线性放大，放大后的信号被接收机接收，从而测得回波信号的功率。

然而，在实际测试中，由于收发天线都安装在反射面的焦点附近，彼此之间距离很近，会有一部分信号从发射天线直接耦合进去接收天线而被接收链路接收。一般收发天线之间的耦合度为-20dB～-30dB，而发射链路的功放功率一般超过+30dBm，此时泄露进入接收链路的耦合信号一般要超过+10dBm。这样大的耦合信号一般会让接收链路的低噪声放大器进入饱和状态，低噪声放大器进入饱和状态后，将不能对被测目标的回波信号进行放大，导致接收机接收到的信号功率也不正确。

通常，由于发射天线的直漏信号和被测目标的回波信号到达低噪声放大器的时间不同，对于特定的微波暗室而言，两者之间的时间差是固定的。此外，低噪声放大器饱和后经一定时间可以恢复至线性工作状态，因此，在选择低噪声放大器时，只要低噪声放大器的饱和恢复时间小于直漏信号和回波信号到达低噪声放大器的时间差，即可满足测试需求，保证被测目标电磁测试的准确性。

然而，相关技术不能对低噪声放大器的饱和恢复时间进行测试，从而在微波暗室内对目标进行电磁特性测试时，很难选择到合适的低噪声放大器，导致测试结果不准确。

因此，目前亟待需要一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统来解决上述技术问题。

发明内容

本发明实施例提供了一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统，能够准确测量低噪声放大器的饱和恢复时间。

第一方面，本发明实施例提供了一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法，应用于低噪声放大器饱和恢复时间的测量系统，系统包括第一发射链路、第二发射链路、接收链路、脉冲发生器和合路器，所述接收链路包括依次连接的被测低噪声放大器和测试接收机，所述第一发射链路包括依次连接的第一信号源和第一射频开关，所述第二发射链路包括依次连接的第二信号源和第二射频开关，所述第一射频开关和所述第二射频开关分别与所述合路器的入口端连接，所述合路器的出口端与所述低噪声放大器的输入端连接，所述脉冲发生器分别与所述第一射频开关和所述第二射频开关连接；所述方法包括：

利用所述第一信号源产生第一频率和第一功率的第一信号，所述第一功率不小于所述低噪声放大器的饱和输入功率；

利用所述第二信号源产生第二频率和第二功率的第二信号，所述第二功率小于所述低噪声放大器的饱和输入功率，所述第一频率和所述第二频率均位于所述低噪声放大器的工作频段，且所述第二频率和所述第一频率不相等；

利用所述测试接收机测量经所述低噪声放大器放大后的第二信号的功率，所述测试接收机的接收频率等于所述第二频率；