[发明专利]一种测试方法、装置、设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202310273029.6 申请日: 2023-03-20
公开(公告)号: CN116361091A 公开(公告)日: 2023-06-30
发明(设计)人: 范瑞展;周俊祥;蔡淑贞;陈育涵;黄朝扬 申请(专利权)人: 台湾联想环球科技股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F1/20
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 高天华;蒋雅洁
地址: 中国台湾台北*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请实施例公开了一种测试方法、装置、设备和存储介质,其中,所述测试方法,包括:获取CPU以预设功率稳定工作下所述CPU对应的第一温度参数以及所述CPU所处环境的第二温度参数;所述CPU包括相应的散热器件;基于所述预设功率、所述第一温度参数和所述第二温度参数,确定所述CPU的热阻值;将所述热阻值与预设参照值进行比较,确定所述CPU中的所述散热器件的类型。
搜索关键词: 一种 测试 方法 装置 设备 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
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