[发明专利]一种测试方法、装置、设备和存储介质在审
申请号: | 202310273029.6 | 申请日: | 2023-03-20 |
公开(公告)号: | CN116361091A | 公开(公告)日: | 2023-06-30 |
发明(设计)人: | 范瑞展;周俊祥;蔡淑贞;陈育涵;黄朝扬 | 申请(专利权)人: | 台湾联想环球科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F1/20 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 高天华;蒋雅洁 |
地址: | 中国台湾台北*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本申请实施例公开了一种测试方法、装置、设备和存储介质,其中,所述测试方法,包括:获取CPU以预设功率稳定工作下所述CPU对应的第一温度参数以及所述CPU所处环境的第二温度参数;所述CPU包括相应的散热器件;基于所述预设功率、所述第一温度参数和所述第二温度参数,确定所述CPU的热阻值;将所述热阻值与预设参照值进行比较,确定所述CPU中的所述散热器件的类型。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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