[发明专利]片上系统的性能验证方法及装置有效
| 申请号： | 202310248803.8 | 申请日： | 2023-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN115952074B | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 吴明剑;何俊 | 申请（专利权）人： | 瀚博半导体（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34;G06F5/06;G06F15/78 |
| 代理公司： | 北京市君合律师事务所 11517 | 代理人： | 王再芊;毕长生 |
| 地址： | 201300 上海市浦东新区自由贸*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种片上系统的性能验证方法及装置。其中，该方法首先根据性能验证场景定义，配置主设备VIP验证参数与从设备DDR控制器仲裁参数并仿真；然后监控二者数据流以获得实际性能指标；接着，分析判断主设备VIP的性能是否满足定义，若是，则结束执行方法，若否，则获取从设备DDR控制器对片上网络的反压信息，分别获得从设备DDR控制器与片上网络的延迟；然后，判断从设备DDR控制器延迟是否满足预设，若是，则调整主设备VIP验证参数或片上网络架构后再执行方法，若否，则调整从设备DDR控制器仲裁参数后再执行方法。本发明的技术方案使得延迟结果更真实体现反压系统总线的忙闲状态，并且能够快速地定位出系统性能瓶颈。 | ||
| 搜索关键词： | 系统 性能 验证 方法 装置 | ||
【主权项】：
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