[发明专利]一种探测器信噪比获取方法及检测装置有效

专利信息
申请号: 202310244429.4 申请日: 2023-03-15
公开(公告)号: CN115950531B 公开(公告)日: 2023-06-20
发明(设计)人: 付强;刘轩玮;刘楠;赵凤;朱瑞;张涛;刘壮;史浩东;李英超 申请(专利权)人: 长春理工大学
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42;G01J3/28;G01M11/02;G01V13/00;G06N3/044
代理公司: 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 代理人: 付宏璇
地址: 130012 *** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 探测器信噪比获取方法及检测装置。属于光学探测器性能检测技术领域,以及光学探测器性能评估领域。其解决了现有的成像探测系统的信噪比评估方法处理速度慢,计算复杂度高和评估结果不准确的问题。对于采集的探测器反馈的信号提取实部离散性特征值,虚部离散性特征值和相位离散性特征值、实部下四分割点特征值和虚部下四分割点特征值;利用递归神经网络结构,对提取的特征值进行拟合,对输出结果进行计算得到探测器信噪比。本发明所述的探测器信噪比获取方法和成像探测系统探测性能评估方法均适用于光学探测技术领域、光学探测性能的检测和评估技术领域、光学探测器或者空间目标探测系统的生产制造领域。
搜索关键词: 一种 探测器 获取 方法 检测 装置
【主权项】:
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