[发明专利]一种探测器信噪比获取方法及检测装置

说明书

探测器信噪比获取方法及检测装置。属于光学探测器性能检测技术领域，以及光学探测器性能评估领域。其解决了现有的成像探测系统的信噪比评估方法处理速度慢，计算复杂度高和评估结果不准确的问题。对于采集的探测器反馈的信号提取实部离散性特征值，虚部离散性特征值和相位离散性特征值、实部下四分割点特征值和虚部下四分割点特征值；利用递归神经网络结构，对提取的特征值进行拟合，对输出结果进行计算得到探测器信噪比。本发明所述的探测器信噪比获取方法和成像探测系统探测性能评估方法均适用于光学探测技术领域、光学探测性能的检测和评估技术领域、光学探测器或者空间目标探测系统的生产制造领域。

技术领域

本发明属于信号处理技术领域，具体涉及光学探测器性能评估领域。

背景技术

信噪比指信号强度与噪声强度之比，是评价成像探测系统探测性能的重要技术指标，目前成像探测系统的信噪比评估主要方法如下：

基于概率论模型的评估：概率论模型是以统计方法测定信噪比，考虑受试图像中噪声与信号之间的比例关系。该模型利用受试图像中噪声和信号的概率分布，有效解决图像信噪比测定过程中的信号与噪声在空间上分布不均匀的问题。该模型在测量信噪比时考虑到受试图像的噪声与信号的比例关系，能够更加准确的测量信噪比。但是该模型需要大量数据计算，处理速度慢，且受试图像中噪声与信号之间的比例关系需要进行预先估计，估计误差会影响信噪比测量结果的准确性。

基于空间时间频谱分解的评估：空间时间频谱分解是基于时域频谱分解的一种信号处理方法，用于分析受试图像中信号与噪声的分布情况，有效测定图像的信噪比。该方法不仅能够测量单一图像的信噪比，还能够测量多幅图像的平均信噪比，从而能够更准确的评估天基成像探测系统的信噪比水平，但是该方法测量结果受多幅图像内容扰动较大，可能出现测量结果不够准确的问题，而且该方法运算繁琐，复杂度较高。

综上所述，现有的成像探测系统的信噪比评估方法都需要复杂的计算过程，存在处理速度慢，计算复杂度高和评估结果不准确的问题。

发明内容

本发明解决了现有的成像探测系统的信噪比评估方法处理速度慢，计算复杂度高和评估结果不准确的问题。

方案一，一种供探测器信噪比获取方法，所述方法包括如下步骤：

S1、对于采集的探测器反馈的信号，提取所述信号的实部离散性特征值，虚部离散性特征值和相位离散性特征值；提取所述信号的实部下四分割点特征值和虚部下四分割点特征值；

S2、利用递归神经网络结构，对步骤S1中提取的实部离散性特征值、虚部离散性特征值、相位离散性特征值、信号的实部下四分割点特征值和虚部下四分割点特征值进行拟合，为拟合后在时间 t时的输出结果；

S3、对进行线性运算，得到输出结果；

；

其中，为递归神经网络映射阵列，为递归神经网络单元截距；

S4、对探测器信噪比SNR进行计算，所述探测器信噪比SNR为：

；

其中，为探测器接收到的第n个信号，为对进行的第n次运算得到的结果。

方案二，上述方法能够采用计算机软件实现，对应地，本发明还提供一种探测器信噪比检测装置，所述装置包括信号检测模块、信号处理模块和信噪比计算模块；

所述信号检测模块：包括光电传感器和AD转换器，用于信号转换；

所述信号处理模块：包括数字信号处理器和余弦滤波器，用于信号抽取；

所述信噪比计算模块：包括微处理器以及存储器，所述存储器中存储有计算机程序，在微处理器运行所述程序时，执行方案一所述探测器信噪比获取方法。

方案三，基于上述探测器信噪比获取方法，本发明还提供一种成像探测系统探测性能评估方法，所述方法包括：

获取评估对象的信噪比的步骤；