[发明专利]可用于多种测量环境的折射率测量系统及解调方法在审
| 申请号： | 202310235615.1 | 申请日： | 2023-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN116818715A | 公开（公告）日： | 2023-09-29 |
| 发明（设计）人： | 苑立波;王洪业;王剑 | 申请（专利权）人： | 桂林电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41;G01N21/45 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 541004 广*** | 国省代码： | 广西;45 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供的是一种可用于多种测量环境的折射率测量系统及解调方法。它由光源、单模光纤、光纤环形器、光纤1×2耦合器、折射率传感干涉仪、纤维集成耦合器、双芯光纤、端面反射膜、压电陶瓷、光电探测器、数据采集卡、计算机和压电陶瓷控制系统组成。双芯光纤通过纤维集成耦合器构成干涉仪，与折射率传感干涉仪并联形成游标效应。双芯光纤干涉仪缠绕在压电陶瓷上，既用于折射率测量范围的控制，又用于信号解调。根据所测折射率的范围，调整压电陶瓷上施加的电压，使所测的折射率值在两干涉仪并联后的可探测范围内。本发明通过对压电陶瓷实现折射率测量范围的调控，扩大了探测区间，增加了探测灵敏度，可应用于光纤传感领域。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 多种 测量 环境 折射率 系统 解调 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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