[发明专利]基于相移微镜的滑油磨粒三维成像系统在审
| 申请号： | 202310227946.0 | 申请日： | 2023-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN116124652A | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 吕金光;邵岩;梁静秋;郑凯丰;陈宇鹏;赵莹泽;赵百轩;秦余欣;王惟彪 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N21/25;G01B11/24;G01M15/14 |
| 代理公司： | 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 | 代理人： | 郭婷 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于相移微镜的滑油磨粒三维成像系统，包括光源系统、第一分束器、第二分束器、采样系统、相位调制系统和探测系统；光源系统发出的平行光束入射至第一分束器被分为反射光束和透射光束；反射光束经过第二分束器的透射后入射至采样系统得到带有滑油样品信息的样品光束原路返回至第二分束器；透射光束入射至相位调制系统进行相位调制后得到参考光束入射至第二分束器；参考光束和样品光束发生干涉，形成干涉光束后入射至探测系统得到干涉光束的干涉光谱信息；从干涉光谱信息中提取出干涉光强表达式中的互相关项的振幅和相位信息构建干涉光束信号的复函数，然后对复函数进行傅里叶变换，最终得到清晰的滑油磨粒三维重建图像。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 相移 滑油磨粒 三维 成像 系统 | ||
【主权项】：
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