[发明专利]检查装置和使用检查装置的检查方法在审

专利信息
申请号: 202310222785.6 申请日: 2023-03-09
公开(公告)号: CN116735993A 公开(公告)日: 2023-09-12
发明(设计)人: 宫崎敦司;西村圭司 申请(专利权)人: 株式会社大福
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 何欣亭;陈岚
地址: 日本大阪*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 检查装置(70)具备以覆盖配置于第一供电线(1)与第二供电线(2)之间的检查用线圈(71)和芯(72)的方式形成的盖(73)。盖(73)具备覆盖检查用线圈(71)的线圈盖部(74)和以相对于线圈盖部(74)至少向特定径向方向(X)的两侧突出的方式形成的突出部(75)。线圈盖部(74)的特定径向方向(X)的尺寸(D1)比第一供电线(1)与第二供电线(2)之间的设计间隔(G)更小,突出部(75)的特定径向方向(X)的尺寸(D2)比设计间隔(G)更大。
搜索关键词: 检查 装置 使用 方法
【主权项】:
暂无信息
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