[发明专利]一种缺陷信息处理方法、装置、设备及其存储介质在审
| 申请号： | 202310219740.3 | 申请日： | 2023-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN116467166A | 公开（公告）日： | 2023-07-21 |
| 发明（设计）人： | 彭邦;孙磊;张宇阳;刘瑶瑶;刘玲;孙长青 | 申请（专利权）人： | 远光软件股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06V30/10;G06V30/19;G06V30/262 |
| 代理公司： | 深圳市世联合知识产权代理有限公司 44385 | 代理人： | 郝少剑 |
| 地址： | 519000 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请实施例属于自动化处理技术领域，涉及一种缺陷信息处理方法、装置、设备及其存储介质，该方法包括：实时监测目标系统的执行日志；筛查出目标系统中的缺陷信息；进行图片截取，获得包含缺陷信息的图片格式文件；OCR光学识别技术从包含缺陷信息的图片格式文件中提取缺陷信息；对缺陷信息进行分析处理，获得缺陷分析结果；基于缺陷分析结果筛选出对应的缺陷解决模板，并转发所述缺陷分析结果和所述缺陷解决模板至目标负责人。通过RPA机器人流程自动化和OCR光学识别技术，自动化的进行执行程序中的缺陷筛查、缺陷分析和缺陷解决模板选择，更加自动化和智能化，减少人力消耗，及时进行缺陷信息处理，保证目标系统的运行稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 信息处理 方法 装置 设备 及其 存储 介质 | ||
【主权项】：
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