[发明专利]检测装置以及测定装置在审
申请号: | 202310206077.3 | 申请日: | 2023-02-27 |
公开(公告)号: | CN116649935A | 公开(公告)日: | 2023-08-29 |
发明(设计)人: | 山本哲也;深川刚史 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | A61B5/021 | 分类号: | A61B5/021;A61B5/024;A61B5/1455 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李庆泽;徐丹 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 检测装置以及测定装置。可降低功耗。检测装置包含:半导体基板;第1发光部,层叠设置于所述半导体基板,向生物体射出具有第1波段的第1光;第2发光部,层叠设置于所述半导体基板,向所述生物体射出具有比所述第1波段长的第2波段的第2光;第1受光部,设置于所述半导体基板,接收基于所述第1光的来自所述生物体的光;第2受光部,设置于所述半导体基板,接收基于所述第2光的来自所述生物体的光;滤光器,层叠设置于所述第1受光部,使具有所述第1波段的光透过,使具有所述第2波段的光衰减,从所述半导体基板的垂线方向观察时,所述第1受光部包围所述第2受光部,所述第1发光部包围所述第1受光部,所述第2发光部包围所述第1发光部。 | ||
搜索关键词: | 检测 装置 以及 测定 | ||
【主权项】:
暂无信息
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