[发明专利]一种超短电子束团的测量方法、装置及系统在审

专利信息
申请号: 202310198108.5 申请日: 2023-03-03
公开(公告)号: CN116381767A 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 樊宽军;徐阳;李小飞;周峰;胡琛;鲍进 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01T1/29 分类号: G01T1/29;G01B11/02;G01B11/14
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 王颖翀
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种超短电子束团的测量方法、装置和系统,该方法使用太赫兹同时驱动第一谐振器和第二谐振器,以分别在其间隙处产生角频率相等且方向相互正交的第一偏转电场和第二偏转电场;以电子束团的前进方向为z轴,使其依次通过所述第一谐振器和第二谐振器的间隙,经第一偏转电场、第二偏转电场后,到达探测器;根据所述投影束斑的大小确定对应的电子束团的长度,根据两个束斑中心在y轴方向的间距确定对应的两个电子束团之间的间距。通过采用带有缝隙结构的谐振腔通过谐振增强入射的太赫兹电场提供高梯度的偏转电场,不需要很强的太赫兹源就可以产生场强为数百兆伏每米的偏转场,能够在降低成本的同时实现对超短电子束团的精确测量。
搜索关键词: 一种 超短 电子束 测量方法 装置 系统
【主权项】:
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