[发明专利]横向双扩散场效应晶体管、制作方法、芯片及电路有效
申请号: | 202310192045.2 | 申请日: | 2023-03-02 |
公开(公告)号: | CN115911100B | 公开(公告)日: | 2023-05-16 |
发明(设计)人: | 余山;陈燕宁;刘芳;鹿祥宾;朱松超;李君建;安铁雷;连亚军;董子斌 | 申请(专利权)人: | 北京智芯微电子科技有限公司;北京芯可鉴科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 封瑛 |
地址: | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种横向双扩散场效应晶体管、制作方法、芯片及电路,涉及半导体技术领域。晶体管包括:初始衬底;阱区,形成于初始衬底;体区和漂移区,形成于阱区;源极,形成于体区靠近漂移区一侧;载流子吸附层,形成于体区,载流子吸附层为横向延伸的非平坦构型,载流子吸附层的一端延伸至体区远离漂移区一侧,另一端延伸至源极并紧贴源极底部,载流子吸附层为第一导电类型离子重掺杂;二氧化硅隔离层,形成于阱区,并位于体区底部;漏极,形成于漂移区;栅极,形成于体区上;场板,形成于漂移区上。通过本发明提供的晶体管,能够减少载流子在体区内聚集,提高横向双扩散场效应晶体管的击穿电压。 | ||
搜索关键词: | 横向 扩散 场效应 晶体管 制作方法 芯片 电路 | ||
【主权项】:
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