[发明专利]非制冷型红外探测器成像及热时间常数测试系统及方法在审
| 申请号： | 202310188023.9 | 申请日： | 2023-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN116539160A | 公开（公告）日： | 2023-08-04 |
| 发明（设计）人： | 何伟基;田伟昊 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 岑丹 |
| 地址： | 210094 江苏省南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出了一种非制冷型红外探测器成像及热时间常数测试系统及方法，系统包括：机箱、FPGA板卡、电源板卡模块、非制冷红外探测器、斩波器、面源辐射黑体；所述FPGA板卡以及电源模块设置在机箱内；所述斩波器设置在探测器与面源辐射黑体之间，且面源辐射黑体、斩波器以及探测器中心位于同一水平线，所述斩波器用于产生不同频率下的的信号，面源辐射黑体用于为探测器提供光源；所述FPGA板卡与非制冷红外探测器连接，用于产生探测器驱动信号以及接收探测器采集的图像数据；所述上位机对采集的图像数据进行处理，获得热时间常数。本发明在采集图像时，运用两个独立的fifo对于奇数行偶数行进行缓存，并直接按行输出，可以不需要另外板载缓存，节约了资源。 | ||
| 搜索关键词： | 制冷 红外探测器 成像 时间常数 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京理工大学，未经南京理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202310188023.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
