[发明专利]一种单片机芯片动态老炼试验系统及试验方法在审
| 申请号： | 202310187776.8 | 申请日： | 2023-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN116339280A | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | 王兆嘉;韩碧涛;杨兴;陆孜健;陈康杰 | 申请（专利权）人： | 西安京瀚禹电子工程技术有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 西安智典联合专利代理事务所(普通合伙) 61299 | 代理人： | 张鹏 |
| 地址： | 710000 陕西省西安市高新*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于元器件检测技术领域，公开了一种单片机芯片动态老炼试验系统及试验方法，老炼程序加载模块用于对配置芯片下载老炼程序；上位机与老炼板连接，用于通过老炼板发送并行激励；示波器与老炼板连接，用于对器件的工作状态及电性能进行显示。本发明提供的C8051F502老炼板具有操作简单，设备及仪表监测方便等特点，老炼试验指标满足器件电性能老炼要求，同时为了方便输出测量，C8051F502老炼板根据老炼要求设计了输出信号回检，方便输出信号的监测，通过示波器和仪器仪表可对器件的工作状态及电性能进行良好的监测，满足老炼试验指标的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 单片机 芯片 动态 试验 系统 方法 | ||
【主权项】：
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