[发明专利]一种嵌入式芯片的自动检测方法及系统在审
| 申请号： | 202310182413.5 | 申请日： | 2023-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN115951202A | 公开（公告）日： | 2023-04-11 |
| 发明（设计）人： | 苏军;林国权;蔡文正 | 申请（专利权）人： | 深圳市众鸿科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F11/36 |
| 代理公司： | 深圳维启专利代理有限公司 44827 | 代理人： | 董德 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区沙头街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供一种嵌入式芯片的自动检测方法及系统，自动检测方法应用于嵌入式芯片的自动检测系统中的主控检测模组，主控检测模组与控制模组相连接，主控检测模组与嵌入式芯片相连接，嵌入式芯片安装有运行状态测试程序，方法包括：主控检测模组接收控制模组发送的系统运行状态检测指令，并基于系统运行状态检测指令控制嵌入式芯片运行运行状态测试程序；接收嵌入式芯片发送的运行运行状态测试程序对应的运行结果；基于运行结果判断嵌入式芯片是否发生故障。本申请通过在嵌入式芯片内预先安装有运行状态测试程序，再根据嵌入式芯片能否正常运行运行状态测试程序，以判断嵌入式芯片是否发生故障，从而使嵌入式芯片的可靠性得到保障。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 嵌入式 芯片 自动检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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