[发明专利]一种检测装置及方法在审
| 申请号： | 202310177679.0 | 申请日： | 2023-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN116298613A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 张武霖;张勇;郝龙虎;唐亮珍;许星;于洪俊;王宇杰 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04;G01R31/52;G01R31/56;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人： | 郑哲琦;吴昊 |
| 地址： | 100176 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了一种检测装置及方法，装置包括：固定结构及至少一个检测结构；所述固定结构，用于固定待测显示基板，所述待测显示基板包括按照预设次序设置的至少两个绑定部；所述至少两个绑定部中任意两个位置相邻的绑定部能够与同一个所述检测结构建立信号连接；所述检测结构，用于通过与其建立信号连接的所述绑定部和/或者其余所述检测结构，分别按照所述预设次序和所述预设次序的倒序，将所述检测信号传输至每个所述绑定部，以实现对所述待测显示基板的电学检测。本申请实施例使输入各绑定部的检测信号可以叠加，进而在幅值上相同或相近，在保证电学检测全面有效的情况下，提高电学检测结果的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
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