[发明专利]一种检测装置及方法

说明书

本申请实施例提供了一种检测装置及方法，装置包括：固定结构及至少一个检测结构；所述固定结构，用于固定待测显示基板，所述待测显示基板包括按照预设次序设置的至少两个绑定部；所述至少两个绑定部中任意两个位置相邻的绑定部能够与同一个所述检测结构建立信号连接；所述检测结构，用于通过与其建立信号连接的所述绑定部和/或者其余所述检测结构，分别按照所述预设次序和所述预设次序的倒序，将所述检测信号传输至每个所述绑定部，以实现对所述待测显示基板的电学检测。本申请实施例使输入各绑定部的检测信号可以叠加，进而在幅值上相同或相近，在保证电学检测全面有效的情况下，提高电学检测结果的准确度。

技术领域

本申请实施例涉及显示器件技术领域，尤其涉及一种检测装置以及一种检测方法。

背景技术

显示屏幕在制造过程中往往需要对显示器件进行电学检测(Electric Test,ET)，以判断显示器件的各方面功能是否正常。比如，通过让显示器件显示红色画面，判断显示器件在显示红色光时是否存在坏点或者判断整体亮度均匀性。尤其对于大尺寸的显示屏幕产品来说，由于单片面积更大，为避免其他显示设备材料的浪费，显示器件的电学检测尤为重要。然而，目前针对显示器件的电学检测，仍然存在弊端：由于检测线路自身存在电阻，检测信号在流经显示器件各区域的时候会发生信号衰减，由此导致检测开始之后显示屏幕各区域的亮度逐渐下降，整个发光区域的亮度严重不均衡，甚至在发光时形成多个亮度不同的区域，也就是出现“分屏”现象，严重影响电学检测结果的准确性。

需要说明的是，在上述背景技术区分发明的信息仅用于加强对本发明的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本申请实施例提供了一种检测装置以及一种检测方法，旨在使传输至显示基板的各绑定部的检测信号相同或者相近，在保证全面有效的电学检测的情况下，提高显示区域的发光亮度的均一性，从而提高电学检测结果的准确度。

在一方面，本申请实施例提供了一种检测装置，所述装置包括：固定结构及至少一个检测结构；

所述固定结构，用于固定待测显示基板，所述待测显示基板包括按照预设次序设置的至少两个绑定部；所述至少两个绑定部中任意两个位置相邻的绑定部能够与同一个所述检测结构建立信号连接；

所述检测结构，用于通过与其建立信号连接的所述绑定部和/或者其余所述检测结构，分别按照所述预设次序和所述预设次序的倒序，将所述检测信号传输至每个所述绑定部，以实现对所述待测显示基板的电学检测。

可选地，所述检测结构的数量大于或者等于2，并且，所述绑定部的数量大于或者等于3。

可选地，所述绑定部按照所述预设次序沿所述待测显示基板的一侧边缘并列排布；

其中，所述检测结构能够置于位置相邻的两个所述绑定部之间，以使所述任意两个位置相邻的绑定部与同一个所述检测结构建立信号连接。

可选地，所述检测结构包括：两个第一检测探针；所述绑定部包括：第一检测引脚；

任一所述检测结构的两个第一检测探针能够分别与两个位置相邻的所述绑定部的第一检测引脚接触，以使该两个位置相邻的所述绑定部与同一个所述检测结构建立信号连接。

可选地，位于所述预设次序的首尾位置的所述绑定部具有一个第一检测引脚，其余所述绑定部具有两个第一检测引脚；

其中，其余所述绑定部的两个所述第一检测引脚分别能够用于与两个所述检测结构的所述第一检测探针建立信号连接。

可选地，任一所述检测结构还包括：检测焊盘；