[发明专利]一种基于波长复用超表面的快速三维显微成像方法和系统在审

专利信息
申请号: 202310176762.6 申请日: 2023-02-28
公开(公告)号: CN116223379A 公开(公告)日: 2023-06-06
发明(设计)人: 王国玺;葛苏阳;赵卫;张文富 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/17;G01N21/84
代理公司: 西安恒泰知识产权代理事务所 61216 代理人: 孙雅静
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于波长复用超表面的快速三维显微成像方法和系统,系统包括:沿光束传播方向布置的光源模块、光调制模块、样品载物台和光收集模块;所述的光调制模块将双波长光束调制为HiLo显微成像所需的正弦条纹分布结构的照明光与相位平坦的均匀照明光并投影照明光至样品载物台处;所述光收集模块实现不同轴平面上的样品图像采集以及数据传输;根据HiLo融合算法组合多个光学切片图像以形成三维显微成像。本发明实现了快照式的HiLo光学切片显微成像,提高了成像速度与稳定性;实现待测样品的三维显微成像;具备体积小、结构紧凑以及便于移动等优点,能够满足野外环境、偏远地区等复杂环境下即时检测的需求。
搜索关键词: 一种 基于 波长 复用超 表面 快速 三维 显微 成像 方法 系统
【主权项】:
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