[发明专利]生成缺陷目录的方法、设备及存储介质

摘要

本申请公开了一种生成缺陷目录的方法、设备及存储介质，属于产品的缺陷描述技术领域。所述方法包括：确定指定类型产品的多个缺陷部位，以及每个缺陷部位对应的缺陷方位和缺陷类型，缺陷部位用于指示指定类型产品可能发生缺陷的产品部位，缺陷部位对应的缺陷方位用于指示缺陷部位上可能发生缺陷的空间方位，缺陷部位对应的缺陷类型用于指示缺陷部位上可能发生的缺陷的类型；根据每个缺陷部位对应的缺陷方位和缺陷类型，生成缺陷目录，缺陷目录包括多个缺陷部位中每个缺陷部位的部位标识以及对应的缺陷类型的类型标识和缺陷方位的方位标识。根据该缺陷目录可以规范产品的缺陷描述，使得不同部门使用统一的缺陷描述来描述缺陷问题。