[发明专利]一种闪存颗粒寿命预测方法、装置、设备及可读存储介质在审
| 申请号： | 202310125476.7 | 申请日： | 2023-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN116153381A | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 陶航;郭建平;刘阳 | 申请（专利权）人： | 杭州华澜微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C16/14 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 姚莹丽 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种闪存颗粒寿命预测方法、装置、设备及可读存储介质，属于存储技术领域，该方法包括：对待测闪存颗粒的每个存储块进行抗读干扰测试，获取每个所述存储块的抗读干扰能力；根据预先建立的闪存颗粒的抗读干扰能力和剩余擦除次数的对应关系，确定每个所述存储块的剩余擦除次数，将所有所述存储块的剩余擦除次数的平均值作为所述待测闪存颗粒的寿命。本申请与现有技术中的验证方法相比，降低了对闪存颗粒的损坏，不会产生额外的损耗，检测后的闪存颗粒依旧可以用于正式的产品中；可以应用于闪存颗粒品质检测；可以应用于闪存品质等级分类，充分发挥不同闪存的价值；可以应用于高质量需求领域的筛选，挑选出符合要求的闪存颗粒。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 闪存 颗粒 寿命 预测 方法 装置 设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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