[发明专利]一种芯片稳定性的自检测方法及其电路在审
| 申请号： | 202310085094.6 | 申请日： | 2023-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN115980551A | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 连成洲;张建华;王云;陆超;郑凯华;李荣荣 | 申请（专利权）人： | 广东省大湾区集成电路与系统应用研究院 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 陈旭红 |
| 地址： | 510535 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片稳定性的自检测方法及其电路，方法由芯片工作前自发执行，包括：对芯片内部的LDO电路输出端进行采样，并根据采样得到的LDO电路输出，得到所述LDO电路的脉冲响应；根据所述脉冲响应，计算得到所述LDO电路的阻尼比，并根据所述阻尼比，计算得到所述LDO电路的相位裕度；当所述相位裕度大于预设角度时，则判断所述LDO电路处于稳定状态；当所述相位裕度小于或等于预设角度时，则判断所述LDO电路处于非稳定状态。本发明实施例解决现有技术中芯片电源可靠性低、芯片测试成本高、芯片测试效率及准确率低下的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 稳定性 检测 方法 及其 电路 | ||
【主权项】：
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