[发明专利]一种测试芯片的方法、系统、设备和存储介质在审
| 申请号： | 202310077858.7 | 申请日： | 2023-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN116302738A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 于喆 | 申请（专利权）人： | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人： | 马鹏林;黄艳南 |
| 地址： | 250000 山东省济南市中国（山东）自由贸*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试芯片的方法、系统、设备和存储介质，方法包括：响应于芯片上电启动，获取测试脚本存放路径，并运行所述测试脚本以对各个模块的功能进行测试；将产生的日志信息与测试用例预期结果进行比较以判断是否符合测试用例结果；响应于运行完对芯片各模块的可行性判断，统计本轮的测试结果；以及通过重定向的方式将测试结果放到记录文件，并将所述记录文件分别传输到测试电脑和云端。本发明提高了对SOC各模块的测试效率，可以有效地用来进行芯片的稳定性测试工作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 芯片 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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