[发明专利]基于逐步回归的光谱数据处理方法、系统、电子设备和介质在审

专利信息
申请号: 202310074303.7 申请日: 2023-01-16
公开(公告)号: CN116153430A 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: 潘从元;王彬;张兵;贾军伟 申请(专利权)人: 合肥金星智控科技股份有限公司
主分类号: G16C20/20 分类号: G16C20/20;G01N21/71;G16C20/70;G06F18/213;G06F18/27
代理公司: 北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11594 代理人: 史光伟
地址: 230000 安徽省合*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及一种基于逐步回归的光谱数据处理方法、系统、电子设备和介质,所述基于逐步回归的数据处理方法,包括以下步骤:获取已知工业指标数据的定标样品的有效特征值变量;基于定标样品的有效特征值变量和工业指标数据构建多元回归模型;获取待测样品的有效特征值变量,将待测样品的有效特征值变量输入所述多元回归模型,以得到待测样品的预测的工业指标数据。本发明通过对物质多次重复检测取得光谱数据,再进行合适的数据处理和特征选择以构建具有高稳定性和准确性的预测模型,提高了光谱数据的质量以及煤质中工业指标预测的精度。
搜索关键词: 基于 逐步回归 光谱 数据处理 方法 系统 电子设备 介质
【主权项】:
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