[发明专利]基于大数据的集成电路实验方法及装置

摘要

本发明涉及智能决策技术，揭露了基于大数据的集成电路实验方法及装置，所述方法包括：对集成电路进行器件检测，得到电路器件，计算电路器件中每个器件的实验优先级；获取集成电路的电路图，确定电路器件中每个器件对应的逻辑关系，查询电路器件中每个器件的器件功能，确定集成电路的逻辑功能；根据逻辑功能，创建电路器件的实验项目，获取集成电路的历史实验数据，以计算实验项目中每个项目的故障概率，基于故障概率和实验优先级，确定电路器件的实验次序；对集成电路进行功能实验，得到实验数据，将实验数据与预设的常规数据进行比对，得到比对结果，根据比对结果，生成集成电路的实验方案。本发明在于提高大数据的集成电路实验的准确性。