[发明专利]一种同轴微波测量探针在审
| 申请号： | 202310053313.2 | 申请日： | 2023-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN115951104A | 公开（公告）日： | 2023-04-11 |
| 发明（设计）人： | 张志刚;曹玉金;张文兴;朱伟峰;石先宝;吴强;张枢 | 申请（专利权）人： | 中电科思仪科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 | 代理人： | 种艳丽 |
| 地址： | 266555 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种同轴微波测量探针，包括：探针支架、同轴电缆以及压片，探针支架的端部具有凹槽结构，同轴电缆位于探针支架内部并从探针支架的端部穿出，压片固定在探针支架的端部，并位于凹槽结构的开口处，压片和凹槽结构之间形成活动空间，同轴电缆的穿出端在活动空间内活动。本发明的技术方案克服现有技术中探针测试时的滑行距离较长、触痕较大、测试结果不稳定的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 同轴 微波 测量 探针 | ||
【主权项】：
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