[发明专利]用于数字逻辑器件的测试方法及测试系统在审
| 申请号： | 202310034782.X | 申请日： | 2023-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN116165524A | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 罗俊杰;庞明奇;乔秀铭;刘净月;焦慧娟;席雨 | 申请（专利权）人： | 航天科工防御技术研究试验中心 |
| 主分类号： | G01R31/3183 | 分类号： | G01R31/3183;H03K5/125 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 王刚 |
| 地址： | 100085*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种用于数字逻辑器件的测试方法及测试系统。基于测试得到的四个延迟时间获得边沿上升时间和边沿下降时间，实现数字逻辑器件的边沿上升时间和边沿下降时间的自动化测试。本申请的方案，提高了测试效率，降低了测试成本，并且通用性强，易于移植。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 数字 逻辑 器件 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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